Project Description

VIEW-Baureihe

Modelle

VIEW-Baureihe
Die Hochleistungsmesssysteme von VIEW kombinieren die Schlüsseltechnologien, die für eine gleichbleibende Genauigkeit und Produktivität in fortschrittlichen Fertigungsabläufen erforderlich sind.
Alle VIEW-Systeme bieten hohe Geschwindigkeit und hohe Zuverlässigkeit für den 24-Stunden-Betrieb in der Werkstatt oder im Messlabor.
VIEW Pinnacle ist ein Ultrahochleistungs-Messsystem, das für Anwendungen entwickelt wurde, die ein Höchstmaß an Genauigkeit, Durchsatz und Funktionalität erfordern.
Pinnacle Plus verfügt über eine übergroße optische Granit-Stützstruktur, ein hochauflösendes optisches System mit fester Vergrößerung und eine hochleistungsfähigen Z-Achse, um die geringstmögliche Messunsicherheit zu gewährleisten.
VIEW Summit wurde für Komponenten entwickelt, die einen großen Arbeitsbereich, enge Toleranzen und eine hohe Genauigkeit erfordern. Basierend auf den gleichen Kerntechnologien wie im Pinnacle verfügt der Summit über ein festes Brückendesign.
Die neuesten halbautomatischen Hochleistungs-Messmikroskope VIEW MicroLine® kombinieren manuelle X-Y-Tische mit vollautomatischer hochpräziser Fokus- und Bildfeldmessung. Dieses kritische Messsystem ist ideal für kritische Messungen an Wafern, Masken, MEMS und anderen Mikrostrukturen. Dieses System bietet Spitzenleistung und Wiederholbarkeit bei den höchsten verfügbaren optischen Vergrößerungen.

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